【障害 2025/2/20】出欠カードおよびテストカードが繋がりにくい状態になっておりました
概要
出欠カードおよびテストカードが繋がりにくい状態になっておりました。
日時
2025/2/20(木) 8:15 ~ 11:24頃
詳細
出欠カードおよびテストカードが繋がりにくい状態になっておりました。
現在は問題なくご利用できるようになっております。
ご迷惑をおかけして誠に申し訳ございません。
English
Summary
There was an issue preventing attendance and test cards from connecting properly.
The issue has now been resolved, and the service is functioning as normal.
Date and Time of Interruption
February 20, 2025 (Thursday) from 8:15 AM to around 11:24 AM JST (Japan Standard Time).